ZoomOptics可獲得更準確的測量結果，無測量誤差

ZoomOptics系統優化了探測器的視野，從而消除了孔徑光闌造成的任何影響。結果是測量結果的精度顯著提高。

超薄樣品測量數據的超快記錄（2MHz）

薄膜和高導電性材料需要非常高的數據采集速率，以準確記錄樣品上表面的快速溫度升高。LFA 467 HyperFlash提供2 MHz的采樣率，這是LFA系統的價值。

• 寬的可用溫度范圍，從-100°C到500°C

LFA 467 HyperFlash采用單一儀器設置，即無需更換探測器或熔爐，即可在-100°C至500°C之間進行測量。再加上市場上廣泛的配件，該儀器為測定熱物理性質開辟了全新的領域。

• 由于16個樣品的樣品架，樣品吞吐量高出4倍

LFA 467 HyperFlash的一個獨特優勢是能夠在整個溫度范圍內同時測量多達16個樣本。這允許以更小的操作時間和工作量輸入實現更大的樣本吞吐量。

再填充系統可用于探測器和熔爐上杜瓦瓶的自動再填充，允許LFA系統24小時不間斷運行。

溫度范圍：-100°C…500°C

可提供室溫版本

加熱速率（max）：50 K/min

爐膛冷卻裝置

外部冷卻器（RT...500°C），可選：

• 液氮冷卻（-100…500°C）
• 加壓空氣（0°C…500°C）

熱擴散率0.01 mm²/s…2000 mm²/s

準確度

熱擴散率1：±3%

比熱2：±5%

重復性

熱擴散率1：±2%

比熱容2：±3%

氙氣閃光燈

脈沖能量：max.10焦耳/脈沖（可變），軟件控制

脈沖寬度：10至1500μs

縮放光學系統：優化的視野（可選，不需要遮罩）

脈沖映射：用于有限脈沖校正和改進的cp測定

紅外探測器

• InSb:RT…500°C
• MCT:-100°C…500°C
• 探測器補充裝置（可選）

大氣：惰性、氧化性、靜態和動態

真空：<150毫巴