Andor 的 iStar DH334T 快速門控增強型 CCD 系列旨在為高分辨率、納秒級時間分辨成像提供集成檢測解決方案。1024 x 1024 陣列非常適合各種時間分辨應用，包括等離子體分析、安裝到 Andor Mechelle 光譜儀時的 LIBS 或快速瞬態現象。

iStar DH334T 快速門控增強型 CCD 提供數 MHz 讀數，以及筆記本電腦友好的 USB 2.0 連接和完全集成的軟件控制的數字延遲發生器 (DDG)。只需按一下按鈕，即可無縫集成復雜的實驗，并通過單個交互式界面進行完全定時和增益控制。具有各種入口輸入窗口和熒光粉選項的第 2 代和第 3 代圖像增強器可滿足 120 nm 至 1100 nm 的波長范圍要求。

• 高分辨率傳感器和圖像增強器 - 清晰的圖像和光譜定義，100% 的填充因子可實現更大的信號收集效率
• 光學門控 < 2 ns - 十億分之一秒的時間分辨率，用于準確的瞬態現象研究
• 5 MHz 讀出平臺 - 快速幀速率和頻譜速率，用于動態現象的表征。用于圖像數字化均勻性的單讀出放大器
• 超快讀出選項裁剪和快速動力學模式 - 完全可定制的分箱序列，以獲得高的光譜和圖像速率。大于 6,667 光譜/秒的連續速率，在突發模式下高達 55,250 光譜/秒。
• 高 QE 第 2 代和第 3 代圖像增強器 – 良好的光子捕獲，峰值 QE 高達 50%，光譜覆蓋范圍為 120 至 1,100 nm。
• 低抖動、板載數字延遲發生器 (DDG) - 更高的選通時序精度和更低的傳播延遲。軟件控制的 3x 觸發輸出，設置精度為 10 ps，用于復雜的實驗集成。
• 500 kHz 持續光電陰極選通 - 在基于激光的高重復率應用中更大化信噪比。
• TE 冷卻至 -40ºC - 有效減少 CCD 暗電流和像素瑕疵。
• 光電陰極 EBI更小化 - 干氣吹掃接口可進一步有效降低 EBI。
• Intelligate- 智能且準確的 MCP 門控，可在 UV 中實現優于 1:108 的快門效率。

時間分辨熒光 (LIF, PLIF)

量子光學

高光譜成像

瞬態吸收

光子計數

非線性光學